测试
研发一站式测试解决方案
我们有着高素质的测试工程师为世界各地的客户研发一站式测试解决方案。
已经有着最先进的测试器平台可用。
Microtest 的测试所是世界上最强大的测试室之一。
- 30年微电子工程经验
- 对于自动机械、工业、医疗保健、太空、消费、无线电频率都有着全面的了解
- 二手设备的技术水平
- 研发有效的测试方法来助于减低测试成本并提高质量
- 提供一站式解决方案，从研发有效的测试方法到量产。
- 持续改进生产阶段：
- 测试时间优化
- 提高生产量
- 实施S-PAT,D-PAT,G-PAT,Z-PAT
现有设备:
- Microtest Hatina （不同的配置，包括uWave附件）
- Teradyne A565
- Teradyne J750
- Teradyne uFlex
- Teradyne Integra Flex （有uWave附件）
- High volume Microtest Celsius 3T handler
- Microtest Scara 3T handler
- Microtest独家的无烤箱预烧系统/li>
- Wafer Prober from 6 to 12 inch
- Semics Opus 3
- Accretech UF3000
- Accretech APM90
- Accretech UF200
- Thermostream
得益于这些设备，我们能够为所有不同的应用市场开发最强大、最复杂的测试解决方案：自动机械、工业、消费、太空、军事。
ISO 和符合汽车的测试解决方案流程。
OVENLESS BURN&IN 和 HTOL 解决方案
市场上首个无烤箱预烧的测试器
Microtest 预烧测试器是一种创新和全自动的方案，可大幅降低工业成本并提高测试质量。
主要特点：
- 每个 DUT都嵌入了加热器
- 每个系统可放至24块预烧板
- 每片板可容至120个装置
- 兼容自动装载机
- 占地面积小
- 单独控制DUT加热器
- 功耗极低
- 可靠性和准确性极高
- 只有装置处于高温
量产
高技能的Microtest工程师团队可以开发从晶片到最终完成品测试。
- 生产工程师可以有效的监控和保证生产测试的质量
- 测试质量会不断检查和改进
- 优化测试时间和测试方案
- 产量提高
- 实施S-PAT,D-PAT,G-PAT,Z-PAT
- 产量损失自动停止
- 提供数据自动分析和后期处理。数据可在安全区域下载。
- 有关产量损失分析的工程报告
- 欧洲和亚洲都有测试服务
- 从晶片到最终完成品测试都可测试于低温-70°到高温180°
- 少量或大量的Burn-in 服务
- 符合AEC Q100 e ESCC9000
辐射测试
得益于非常凑小且便携的自动测试设备配置（Hatina + DMT），Microtest 可以在辐射测试期间重复使用特别测试程序。
我们拥有超过10年的辐射测试经验，在真空密室中使用特殊的专利溶液进行热和冷测试。
- 符合ESCC9000
- 研发高质量、极其灵活和创新的解决方案，用于即时横截面计算
- 可SEE和TID在复杂的混合信号装置/li>
- 与具备物理科学资格的公司开展光束管理合作
- 与 INFN (国立核物理研究所)合作
- 获准进入高素质的辐射活动实验室
- SEE –> RADEF (RADiation Eff（辐射效应实施）, Finland 芬兰, Louvain La Neuve 鲁汶.拉纽夫 (Belgium比利时),
- TID –> Louvain La Neuve 鲁汶.拉纽夫 (Belgium比利时), Noordwijk诺得伟克 (Netherland荷兰), Rome 罗马(Italy意大利)
- 标准和综合化辐射测试流程
- 在辐照期间直接对设施进行 SEL、SET、SEU 分析的软件
- 目前的设备都装在飞往水星和火星以及若干飞行轨道的装置里
- 基于Microtest拥有的ESC9000合格测试装置，目前正在太空运行
- 拥有微电子器件辐射效应物理学理论知识
