Emiliano Consani, COO e ASIC Development Director di Microtest, sarà il relatore di un seminario dal titolo “Le fasi dello sviluppo di uno Smart Power IC: dalla definizione della specifica alla completa maturità del dispositivo seguendo l’approccio integrato del “Design for X”.
La lezione, in programma il 18 maggio alle ore 16 nell’Aula F3 del Polo “E.Vitale”, darà l’opportunità a Microtest di presentare le sue capability tecnologiche nell’ambito della formazione post-laurea del Dipartimento di Ingegneria dell’Informazione dell’Università di Pisa, un centro di eccellenza per la ricerca e l’istruzione superiore nel campo delle tecnologie dell’informazione e della comunicazione (TIC), della robotica e della bioingegneria.
Nel seminario verranno descritte le diverse fasi dello sviluppo di un circuito integrato, con particolare attenzione sui metodi di progettazione in grado di migliorare la qualità del dispositivo riducendo tempi e costi di realizzazione dello stesso.
Saranno quindi ripercorsi gli aspetti più significativi del DFX (Design for X), un approccio integrato che rispecchia la filosofia aziendale di Microtest, sempre orientata alla cooperazione tra le competenze coinvolte nello sviluppo di un prodotto.